崗位職責(zé):
工作職責(zé):作為良率分析部經(jīng)理,具備DOE 設(shè)計(jì),產(chǎn)品表征,數(shù)據(jù)分析,確認(rèn)產(chǎn)品良率的損失原因并提出改善方向的能力。同時(shí),需要協(xié)助Device和PI完成新產(chǎn)品的開發(fā),開發(fā)并維護(hù)CP及defect 良率分析系統(tǒng)。最后帶領(lǐng)團(tuán)隊(duì),構(gòu)建良率提升藍(lán)圖,實(shí)現(xiàn)CIS產(chǎn)品良率提升的目標(biāo)。
具體職責(zé):
1.CP/WAT/In-line相關(guān)數(shù)據(jù)分析。
2.對(duì)DOE設(shè)計(jì),版圖和工藝改良,能夠提出良好的建議。
3.制定良率提升的計(jì)劃,帶領(lǐng)團(tuán)隊(duì)完成既定目標(biāo)。
任職要求:
至少8年以上CIS/DRAM/flash/Logic相關(guān)工作經(jīng)驗(yàn),YE/Device/PI 相關(guān)經(jīng)驗(yàn)尤佳。熟悉:半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì),Testkey的繪制,
產(chǎn)品失效表征方法, 半導(dǎo)體工藝改良。
碩士及以上學(xué)歷,半導(dǎo)體、物理學(xué)、微電子等專業(yè),熟練使用辦公軟件, 英語聽說讀寫流利。